仪器型号：JEM-2100F

生产厂家：日本电子株式会社

购置时间：2009年10月

联系人：郑华艳，zhenghuayan@tyut.edu.cn

主要技术指标：

1. 加速电压：200 kV

2. 电子枪：ZrO/W(100)

3. 束斑尺寸：TEM模式2.0 nm-5.0 nm

EDS/NBD/CBD模式0.5 nm-2.4 nm

STEM模式0.2 nm-1.5 nm

4. 物镜：球差系数0.5 mm，色差系数1.1 mm

5. 分辨率：点分辨率0.19 nm，线分辨率0.10 nm，STEM分辨率0.20 nm

6. 能谱仪：接收角0.13 sr，谱线分辨率127 eV

7. 样品移动范围：X/Y方向平移范围±1.0 mm，Z方向平移范围±0.1 mm，X/Y方向倾转角度范围±25º

主要功能：

该设备包含有TEM﹑HRTEM、STEM、EDS﹑SAED工作模式，可观察材料的质厚衬度像，衍射衬度像和高分辨电子显微像；可获得不同取向的电子衍射花样；可进行微区成分分析。

主要用途：

样品形貌观察、纳米尺度的结构与成分分析、高分辨图像观察、电子衍射结构分析、材料微结构观察与分析。