场发射透射电镜

发布日期:2019-03-20  浏览量:

仪器型号:JEM-2100F

生产厂家:日本电子株式会社

购置时间:2009年10月

联系人:郑华艳,zhenghuayan@tyut.edu.cn

主要技术指标:

1. 加速电压:200 kV

2. 电子枪:ZrO/W(100)

3. 束斑尺寸:TEM模式2.0 nm-5.0 nm

EDS/NBD/CBD模式0.5 nm-2.4 nm

STEM模式0.2 nm-1.5 nm

4. 物镜:球差系数0.5 mm,色差系数1.1 mm

5. 分辨率:点分辨率0.19 nm,线分辨率0.10 nm,STEM分辨率0.20 nm

6. 能谱仪:接收角0.13 sr,谱线分辨率127 eV

7. 样品移动范围:X/Y方向平移范围±1.0 mm,Z方向平移范围±0.1 mm,X/Y方向倾转角度范围±25º

主要功能:

该设备包含有TEM﹑HRTEM、STEM、EDS﹑SAED工作模式,可观察材料的质厚衬度像,衍射衬度像和高分辨电子显微像;可获得不同取向的电子衍射花样;可进行微区成分分析。

主要用途:

样品形貌观察、纳米尺度的结构与成分分析、高分辨图像观察、电子衍射结构分析、材料微结构观察与分析。

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